Howest
Howest
 

DocSpace at Howest  >
7. Sociaal-agogisch werk >
7.d Toegepaste psychologie >
TP 2015 >

Please use this identifier to cite or link to this item: http://hdl.handle.net/10046/1288

Title: Inventarisatie van neuropsychologisch testmateriaal : ontwikkeling van online testfiches voor aandacht en geheugen
Authors: Marchand, Rianne
Issue Date: 20-Apr-2016
Abstract: Deze scriptie biedt een uitgebreide inventarisatie van online testfiches van diverse neuropsychologische tests die betrekking hebben op de domeinen aandacht en geheugen, en die in Vlaanderen gebruikt worden. In het eerste deel van deze scriptie komen enkele theoretische aspecten aan bod. Ten eerste worden belangrijke kenmerken en het belang van psychodiagnostiek geschetst, waarna de criteria waaraan diagnostiek moet voldoen verder worden uitgewerkt. Ten tweede wordt er toegespitst op neuropsychologische diagnostiek, waarbij verschillende settings en vormen worden besproken. De domeinen aandacht en geheugen in het bijzonder worden hier uitvoerig aangehaald. Ten derde wordt de algemene situering van (neuro)psychologische diagnostiek in Vlaanderen bekeken, waarna ook het onderzoeksdoel duidelijk wordt. Het tweede deel van deze scriptie omvat het proces van inventarisatie van de testfiches van de in Vlaanderen gebruikte aandacht- en geheugentests. Het beroepsproduct, te vinden in de bijgevoegde Appendix, biedt een overzichtelijke presentatie van de testfiches. In het derde deel worden de resultaten van de inventarisatie besproken en worden antwoorden op de onderzoeksvragen geformuleerd. Tot slot volgt een kritische reflectie over het uitgevoerde onderzoek en het uiteindelijke resultaat.
URI: http://hdl.handle.net/10046/1288
Appears in Collections:TP 2015

Files in This Item:

File Description SizeFormat
Beroepsproduct_Rianne_Marchand.pdfBeroepsproduct1320KbAdobe PDFView/Open
Bachelorproef+Rianne+Marchand+14+deel+1.pdfBachelorproef1263KbAdobe PDFView/Open

All items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved.

 

DSpace Software Copyright © 2002-2006 MIT and Hewlett-Packard - Feedback